- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/223 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en irradiant l'échantillon avec des rayons X ou des rayons gamma et en mesurant la fluorescence X
Détention brevets de la classe G01N 23/223
Brevets de cette classe: 1262
Historique des publications depuis 10 ans
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2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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---|---|---|
Rigaku Corporation | 379 |
96 |
Shimadzu Corporation | 5791 |
58 |
HORIBA, Ltd. | 746 |
56 |
Security Matters Ltd | 89 |
51 |
Hitachi High-Tech Science Corporation | 326 |
29 |
X-Ray Optical Systems, Inc. | 64 |
25 |
Thermo Niton Analyzers LLC | 40 |
23 |
Icagen, LLC | 38 |
22 |
Sigray, Inc. | 68 |
20 |
Soreq Nuclear Research Center | 108 |
20 |
Malvern PANalytical B.V. | 124 |
19 |
Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | 359 |
17 |
Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik | 154 |
16 |
Evident Scientific, Inc. | 170 |
16 |
Nova Measuring Instruments Inc. | 59 |
14 |
Bruker Technologies Ltd. | 100 |
13 |
Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc. | 114 |
10 |
Canon Anelva Corporation | 676 |
10 |
Metso Outotec Finland Oy | 795 |
9 |
Enterprise Science Fund, LLC | 141 |
9 |
Autres propriétaires | 729 |